在電氣設(shè)備的制造過(guò)程中，不可避免會(huì)出現(xiàn)諸如空氣隙之類(lèi)的絕緣故障，從而導(dǎo)致絕緣子內(nèi)部局部放電。部放電現(xiàn)象的出現(xiàn)將加速電網(wǎng)中絕緣子的老化，并導(dǎo)致嚴(yán)重的絕緣子故障，從而影響電網(wǎng)的安全性和穩(wěn)定性。了研究間隙尺寸對(duì)固體絕緣局部放電過(guò)程的影響，本文研究了局部放電機(jī)理，建立了局部放電量測(cè)試系統(tǒng)，并給出了不同的尺寸。

　　
　　部放電量下的氣隙和場(chǎng)強(qiáng)分析了外部場(chǎng)強(qiáng)對(duì)氣隙放電量的影響。此階段，局部放電是電氣設(shè)備絕緣性能差的主要原因，這對(duì)設(shè)備電源系統(tǒng)的安全運(yùn)行有較大影響。態(tài)隔離器中的局部放電會(huì)干擾電源系統(tǒng)中的各種信號(hào)，并影響電源系統(tǒng)中設(shè)備和儀器的操作和測(cè)量精度。前，市場(chǎng)上常見(jiàn)的固體絕緣產(chǎn)品包括干式絕緣變壓器，電動(dòng)機(jī)線(xiàn)材和電磁產(chǎn)品。局部放電過(guò)程中會(huì)發(fā)生一系列物理強(qiáng)度變化，這將加速絕緣產(chǎn)品中絕緣層的老化，甚至導(dǎo)致?lián)舸?。此，研究氣隙大小與局部放電量之間的關(guān)系對(duì)于電網(wǎng)高壓設(shè)備的維護(hù)和診斷具有重要意義。固體絕緣產(chǎn)品中，氣隙的局部放電必須滿(mǎn)足以下兩個(gè)條件。隙中存在一定的電場(chǎng)，其強(qiáng)度比放電開(kāi)始時(shí)的發(fā)電廠高。隙中有可以自由移動(dòng)的自由電子。局部放電過(guò)程中，氣隙將首先被破壞，但周?chē)h(huán)境也具有更好的絕緣性能。
　　氣隙破裂期間，自由電子將被釋放并且自由作用的強(qiáng)度將不同，因此，氣隙破裂的機(jī)理將不同。響局部放電量的因素是氣隙的大小和距離。

　　兩者的乘積較小時(shí)，氣隙中的帶電粒子會(huì)在運(yùn)動(dòng)過(guò)程中從電場(chǎng)吸收更多能量。帶電粒子與氣體粒子發(fā)生碰撞時(shí)，會(huì)使氣體粒子電離，從而產(chǎn)生新的帶電粒子，氣隙中帶電粒子的濃度隨著碰撞過(guò)程而不斷增加。姆森提出的局部放電。氣隙的大小和距離的乘積大時(shí)，氣隙中存在的電荷量大，并且在陽(yáng)極中的連續(xù)釋放過(guò)程中電子繼續(xù)碰撞。場(chǎng)畸變嚴(yán)重，局部電場(chǎng)強(qiáng)度的影響非常強(qiáng)。時(shí)，空間中的某些電荷將產(chǎn)生復(fù)合現(xiàn)象，并且所產(chǎn)生的光子將在氣隙中釋放。些光子形成了在氣隙中局部場(chǎng)強(qiáng)度的作用下衍生的電子崩潰。

　　著電子崩潰數(shù)量的增加，崩潰中的電子書(shū)和正離子的數(shù)量將成倍增長(zhǎng)。時(shí)，由于電子的遷移速率比正離子的遷移速率高兩個(gè)數(shù)量級(jí)，因此電子在氣隙中的移動(dòng)速度仍處于塌陷部分，但是大部分正離子保留在其原始位置并繼續(xù)移動(dòng)。極沿該方向移動(dòng)并與主電子塌陷結(jié)合以形成保留，即流動(dòng)注入機(jī)制。了分析氣隙大小對(duì)局部放電特性的影響，我們需要使用先進(jìn)的設(shè)備來(lái)測(cè)量局部放電量。于信號(hào)在信號(hào)的局部放電期間變化非常快，并且生成的放電信號(hào)非常弱，因此在系統(tǒng)構(gòu)建期間必須充分考慮信號(hào)的測(cè)量精度和抗干擾性。試。

　　測(cè)試系統(tǒng)使用的設(shè)備主要由高壓實(shí)驗(yàn)回路，數(shù)字示波器，抗干擾設(shè)備，阻抗測(cè)量和計(jì)算機(jī)組成，各種儀器串聯(lián)在一起。過(guò)測(cè)試系統(tǒng)的高檢測(cè)靈敏度和測(cè)量精度，可以確定部分放電過(guò)程中的放電量。測(cè)量過(guò)程中，我們研究了氣隙大小對(duì)垂直和水平方向局部放電量的影響，實(shí)驗(yàn)中使用的主要方法是：首先，確保氣隙的垂直尺寸是恒定的；第二，逐漸增加氣隙的直徑大小；再次，確保氣隙直徑保持不變；最后，更改氣隙的大小。實(shí)驗(yàn)過(guò)程中，我們使用了一種漸進(jìn)方法將電壓施加到絕緣子的故障模型。于在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中氣隙的放電會(huì)有一定的延遲，因此在施加電壓期間，電壓將正確保持，而不會(huì)將電壓增加100V。果確定，則為10 s即沒(méi)有局部放電現(xiàn)象，請(qǐng)繼續(xù)增加電源電壓的大小。著氣隙的橫截面增大，氣隙中的場(chǎng)強(qiáng)連續(xù)減小。現(xiàn)象的原因是放電通道的形成是任意的。著氣隙的橫截面的增加，放電通道形成的可能性增加，電纜并且氣隙中的場(chǎng)強(qiáng)逐漸減小。實(shí)驗(yàn)過(guò)程中，我們注意到當(dāng)氣隙的尺寸小于0.3 mm時(shí)，獲得的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)符合上述規(guī)則；但是，當(dāng)氣隙的大小超過(guò)0.3mm時(shí)，氣隙中的場(chǎng)強(qiáng)的變化與呼吸大小的變化沒(méi)有明顯的規(guī)律性。們可以推斷出氣隙中場(chǎng)強(qiáng)的振幅與氣隙的縱向橫截面有關(guān)。始放電量隨氣隙的橫截面而增加。常，通常使用三容量模型來(lái)分析初始?xì)庀斗烹姷拇笮?，?dāng)氣隙大小較大時(shí)，僅一部分氣隙會(huì)產(chǎn)生放電現(xiàn)象。
　　隙的橫截面越大，初始排放量越大；間隙尺寸越大，初始放電越大。施加場(chǎng)的強(qiáng)度的幅度還引起氣隙中的放電量的顯著變化。氣隙中開(kāi)始出現(xiàn)放電現(xiàn)象后，連續(xù)增加實(shí)驗(yàn)的輸入電壓，以使施加的電場(chǎng)強(qiáng)度有所增加。旦振幅超過(guò)某個(gè)值，實(shí)驗(yàn)中的氣隙放電量將不會(huì)隨場(chǎng)強(qiáng)的增加而增加，而是隨場(chǎng)強(qiáng)的增加而減少。生這種現(xiàn)象的原因有兩個(gè)：首先，由于施加場(chǎng)的強(qiáng)度增加，氣隙內(nèi)部場(chǎng)的強(qiáng)度也增加，導(dǎo)致兩側(cè)的電壓降增加局部放電過(guò)程中的氣隙；第二個(gè)是當(dāng)施加的電場(chǎng)強(qiáng)度達(dá)到一定水平后，間隙中的粒子活性更加強(qiáng)烈，參與放電的間隙尺寸增大，并在該處形成了半導(dǎo)體溝道。隙內(nèi)部，有效地去除了排放通道。造各種電氣系統(tǒng)設(shè)備的成本很高，一旦發(fā)生故障，將造成巨大的經(jīng)濟(jì)損失，但是由于在設(shè)備制造過(guò)程中不可避免地存在某些絕緣故障，例如氣隙，會(huì)導(dǎo)致絕緣子內(nèi)部局部放電。局部電荷的長(zhǎng)期影響下，絕緣材料會(huì)引起擊穿。文主要研究氣隙尺寸對(duì)固體絕緣局部放電過(guò)程的影響，建立其測(cè)試系統(tǒng)并分析測(cè)試結(jié)果。
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